| Найдено документов - 29 | Найти похожие: "Индекс УДК" = '548.73 или 539.26 или 539.27 или 543.427' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Ошурина Л.А.
Методы структурного анализа и контроля качества [Электронные текстовые данные] : Учеб.пособие / Л.А. Ошурина ; НГТУ им.Р.Е.Алексеева. - Н.Новгород : [Изд-во НГТУ], 2020. - 95 с. - Библиогр.:с.95. - 0-00.
Методы структурного анализа и контроля качества [Электронные текстовые данные] : Учеб.пособие / Л.А. Ошурина ; НГТУ им.Р.Е.Алексеева. - Н.Новгород : [Изд-во НГТУ], 2020. - 95 с. - Библиогр.:с.95. - 0-00.
Авторы: Ошурина Л.А.
Ключевые слова: ХИМИЯ КРИСТАЛЛОВ, ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ, ФИЗИКА РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ, РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ, СВОЙСТВА, СПЕКТРАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА, УРАВНЕНИЕ ВУЛЬФА-БРЕГГА, РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, ПОГЛОЩЕНИЕ ЛУЧЕЙ, УРАВНЕНИЯ ДИФРАКЦИИ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МЕТОД ДЕБАЯ-ШЕРРЕРА, РЕНТГЕНОГРАММЫ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАММЫ, КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ, ЭЛЕКТРОННЫЕ ДОКУМЕНТЫ
Основная рубрика: ХИМИЯ
Экземпляры: Всего: 1, из них: зэр-1
2. Документ
Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 2002. - 360 с. : ил. - ISBN 5-87623-096-0 : 163-00.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 2002. - 360 с. : ил. - ISBN 5-87623-096-0 : 163-00.
Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Шифры: 669(075) - Г 68
Ключевые слова: РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ, РЕНТГЕНОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 3, из них: нтл-2, чз-1
Дисциплина: Методы структурного анализа и контроля качества(МТНМ), Рентгенография и электронная микроскопия
3. Документ
Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов по направлению "Материаловедение и технол.новых материалов" / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 3-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 1994. - 327 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 12-00.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов по направлению "Материаловедение и технол.новых материалов" / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 3-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 1994. - 327 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 12-00.
Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Шифры: 669(075) - Г 68
Ключевые слова: РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ, РЕНТГЕНОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 6, из них: нтл-2, чз-4
Дисциплина: Рентгенография и электронная микроскопия
4. Документ
Новиков И.И.
Металловедение, термообработка и рентгенография : Учебник для металлург.и машиностроит.спец.вузов / И.И. Новиков, Г.Б. Строганов, А.И. Новиков. - М. : Изд-во МИСИС; Металлургия, 1994. - 478 с. : ил. - Предм.указ.:с.475-479. - Библиогр.:с.474. - ISBN 5-87623-005-7 : 3000-00.
Металловедение, термообработка и рентгенография : Учебник для металлург.и машиностроит.спец.вузов / И.И. Новиков, Г.Б. Строганов, А.И. Новиков. - М. : Изд-во МИСИС; Металлургия, 1994. - 478 с. : ил. - Предм.указ.:с.475-479. - Библиогр.:с.474. - ISBN 5-87623-005-7 : 3000-00.
Авторы: Новиков И.И., Строганов Г.Б., Новиков А.И.
Шифры: 669(075) - Н 73
Ключевые слова: МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ, МЕТАЛЛЫ, ТЕРМИЧЕСКАЯ ОБРАБОТКА, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, СПЛАВЫ, ЛИТЕЙНОЕ ПРОИЗВОДСТВО, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ, ЦВЕТНЫЕ МЕТАЛЛЫ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 3, из них: чз-3
Дисциплина: Диагностика материалов, структур и приборов электронной техники, Материаловедение (МТНМ), Методы структурного анализа и контроля качества(МТНМ), Упрочняющая обработка поверхностных слоев материалов и изделий
5. Документ
Ведринский Р.В.
Рентгеновские спектры поглощения твердых тел / Р.В. Ведринский, И.И. Гегузин. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : ил. - Библиогр.:с.177-182. - ISBN 5-283-03923-4 : 2-80.
Рентгеновские спектры поглощения твердых тел / Р.В. Ведринский, И.И. Гегузин. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : ил. - Библиогр.:с.177-182. - ISBN 5-283-03923-4 : 2-80.
Авторы: Ведринский Р.В., Гегузин И.И.
Шифры: 539 - В 26
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРЫ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, ПОГЛОЩЕНИЕ СВЕТА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-1, общ2-1
6. Документ
Бекренев А.Н.
Малоугловая рентгенография деформации и разрушения материалов / А.Н. Бекренев, Л.И. Миркин. - М. : Изд-во МГУ, 1991. - 246 с. : ил. - Библиогр.:с.229-244. - 4-30.
Малоугловая рентгенография деформации и разрушения материалов / А.Н. Бекренев, Л.И. Миркин. - М. : Изд-во МГУ, 1991. - 246 с. : ил. - Библиогр.:с.229-244. - 4-30.
Авторы: Бекренев А.Н., Миркин Л.И.
Шифры: 539 - Б 42
Ключевые слова: РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ
Основная рубрика: МЕХАНИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
7. Документ
Афанасьев А.М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1989. - 151 с. : ил. - Библиогр.:с.146-151. - ISBN 5-02-014020-1 : 2-10.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1989. - 151 с. : ил. - Библиогр.:с.146-151. - ISBN 5-02-014020-1 : 2-10.
Авторы: Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.
Шифры: 548 - А 94
Ключевые слова: РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, КРИСТАЛЛЫ, ДИФРАКЦИЯ
Основная рубрика: ХИМИЯ
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
8. Документ
Курмаев Э.З.
Рентгеновские спектры твердых тел / Э.З. Курмаев, В.М. Черкашенко, Л.Д. Финкельштейн ; АН СССР, Урал.науч.центр, Ин-т физики металлов; Отв.ред.С.В.Вонсовский. - М. : Наука, 1988. - 174 с. : ил. - Библиогр.:с.162-173. - ISBN 5-02-000713-7 : 2-70.
Рентгеновские спектры твердых тел / Э.З. Курмаев, В.М. Черкашенко, Л.Д. Финкельштейн ; АН СССР, Урал.науч.центр, Ин-т физики металлов; Отв.ред.С.В.Вонсовский. - М. : Наука, 1988. - 174 с. : ил. - Библиогр.:с.162-173. - ISBN 5-02-000713-7 : 2-70.
Авторы: Курмаев Э.З., Черкашенко В.М., Финкельштейн Л.Д.
Шифры: 539 - К 93
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, СПЕКТРЫ ТЕЛ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
9. Документ
Комаров Ф.Ф.
Неразрушающий анализ поверхностей твердых тел ионными пучками / Ф.Ф. Комаров, М.А. Кумахов, И.С. Ташлыков. - Минск : Университетское, 1987. - 255 с. : ил. - Библиогр.:с.231-238. - 2-40.
Неразрушающий анализ поверхностей твердых тел ионными пучками / Ф.Ф. Комаров, М.А. Кумахов, И.С. Ташлыков. - Минск : Университетское, 1987. - 255 с. : ил. - Библиогр.:с.231-238. - 2-40.
Авторы: Комаров Ф.Ф., Кумахов М.А., Ташлыков И.С.
Шифры: 539 - К 63
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ, ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
10. Документ
Изюмов Ю.А.
Дифракция нейтронов на длиннопериодических структурах / Ю.А. Изюмов. - М. : Энергоатомиздат, 1987. - 199 с. : ил. - Библиогр.:с.191-196. - 3-30.
Дифракция нейтронов на длиннопериодических структурах / Ю.А. Изюмов. - М. : Энергоатомиздат, 1987. - 199 с. : ил. - Библиогр.:с.191-196. - 3-30.
Авторы: Изюмов Ю.А.
Шифры: 539 - И 39
Ключевые слова: ДИФРАКЦИЯ, НЕЙТРОННАЯ ФИЗИКА, НЕЙТРОНЫ, ФИЗИКА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
11. Документ
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Пер.с англ. / М.П. Сих [и др.] ; Под ред.Д.Бриггса, М.П.Сиха. - М. : Мир, 1987. - 598 с. : ил. - Авт.указаны на обороте тит.л.-Указ.имен.,хим.соединений, предм.:с.581-592.-Пер.изд.:Practical sufrace analysis by auger-and X-ray protoelectron spectroscopy (Chichester etc.,1983). - Библиогр.в конце гл. - 6-40.
Авторы: Сих М.П., Бриггс Д., Ривьер Дж.К.,
Шифры: 539 - А 64
Ключевые слова: СПЕКТРОСКОПИЯ, ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ, СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ, ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
Дисциплина: Диагностика материалов, структур и приборов электронной техники
12. Документ
Афанасьев А.М.
Ренгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1986. - 94 с. : ил. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Предм.указ.:с.94-95. - Библиогр.:с.93. - 0-75.
Ренгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1986. - 94 с. : ил. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Предм.указ.:с.94-95. - Библиогр.:с.93. - 0-75.
Авторы: Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.
Шифры: 539 - А 94
Ключевые слова: МОНОКРИСТАЛЛЫ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
Основная рубрика: МЕХАНИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
13. Книга
Зырянов Г.К.
Низковольтная электронография : Учеб.пособие / Г.К. Зырянов ; ЛГУ им.А.А.Жданова; Под ред.П.П.Конорова. - Л. : Изд-во ЛГУ, 1986. - 186 с. : ил. - Библиогр.:с.175-185. - 0-35.
Низковольтная электронография : Учеб.пособие / Г.К. Зырянов ; ЛГУ им.А.А.Жданова; Под ред.П.П.Конорова. - Л. : Изд-во ЛГУ, 1986. - 186 с. : ил. - Библиогр.:с.175-185. - 0-35.
Авторы: Зырянов Г.К.
Шифры: 539(075) - З-97
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, НИЗКОВОЛЬТНЫЕ УСТРОЙСТВА, ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ УСТРОЙСТВА, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
14. Документ
Барабаш О.М.
Кристаллическая структура металлов и сплавов : Справочник / О.М. Барабаш, Ю.Н. Коваль. - Киев : Наук.думка, 1986. - 598 с. - (Структура и свойства металлов и сплавов). - Библиогр.:с.587-592. - 2-00.
Кристаллическая структура металлов и сплавов : Справочник / О.М. Барабаш, Ю.Н. Коваль. - Киев : Наук.думка, 1986. - 598 с. - (Структура и свойства металлов и сплавов). - Библиогр.:с.587-592. - 2-00.
Авторы: Барабаш О.М., Коваль Ю.Н.
Шифры: 669(031) - Б 24
Ключевые слова: МЕТАЛЛЫ, СПЛАВЫ, КРИСТАЛЛИЧЕСКОЕ СОСТОЯНИЕ, СПРАВОЧНИКИ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
15. Документ
Аккерман А.Ф.
Вторичное электронное излучение из твердых тел под действием гамма-квантов / А.Ф. Аккерман, М.Я. Грудский, В.В. Смиронов. - М. : Энергоатомиздат, 1986. - 165 с. : ил. - Библиогр.:с.159-166. - 1-80.
Вторичное электронное излучение из твердых тел под действием гамма-квантов / А.Ф. Аккерман, М.Я. Грудский, В.В. Смиронов. - М. : Энергоатомиздат, 1986. - 165 с. : ил. - Библиогр.:с.159-166. - 1-80.
Авторы: Аккерман А.Ф., Грудский М.Я., Смиронов В.В.
Шифры: 539 - А 39
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ЯДЕРНЫЕ РЕАКЦИИ, ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ ЧАСТИЦЫ, АТОМНАЯ ФИЗИКА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
16. Документ
Спектрография и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел / АН СССР, Ин-т физики твердого тела; Отв.ред.Н.Г.Рамбиди. - М. : Наука, 1985. - 288 с. - (Физика, химия и механика поверхности). - Библиогр.:с283-285. - 3-60.
Шифры: 539 - С 71
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, СПЕКТРОГРАФИЯ, ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ, ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ, ПОВЕРХНОСТЬ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
17. Документ
Асланов Л.А.
Основы теории дифракции рентгеновских лучей : Рассмотрение в объеме, необходимом для изучения электронного строения монокристаллов:Учеб.пособие для хим.спец.вузов / Л.А. Асланов, Е.Н. Треушников. - М. : Изд-во МГУ, 1985. - 216 с. - Библиогр.:с.213-215. - 0-55.
Основы теории дифракции рентгеновских лучей : Рассмотрение в объеме, необходимом для изучения электронного строения монокристаллов:Учеб.пособие для хим.спец.вузов / Л.А. Асланов, Е.Н. Треушников. - М. : Изд-во МГУ, 1985. - 216 с. - Библиогр.:с.213-215. - 0-55.
Авторы: Асланов Л.А., Треушников Е.Н.
Шифры: 548 - А 90
Ключевые слова: ТЕОРИЯ, ДИФРАКЦИЯ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МОНОКРИСТАЛЛЫ, ЭЛЕКТРОННОЕ СТРОЕНИЕ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: ХИМИЯ
Экземпляры: Всего: 3, из них: нтл-3
Дисциплина: Диагностика материалов, структур и приборов электронной техники, Рентгенография и электронная микроскопия
18. Документ
Татаринова Л.И.
Структура твердых аморфных и жидких веществ / Л.И. Татаринова. - М. : Наука, 1983. - 151 с. : ил. - Предм.указ.:с.150-151. - Библиогр.:с.143-149. - 1-60.
Структура твердых аморфных и жидких веществ / Л.И. Татаринова. - М. : Наука, 1983. - 151 с. : ил. - Предм.указ.:с.150-151. - Библиогр.:с.143-149. - 1-60.
Авторы: Татаринова Л.И.
Шифры: 539 - Т 23
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, АМОРФНЫЕ ТЕЛА, ЖИДКИЕ ВЕЩЕСТВА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
19. Документ
Асланов Л.А.
Инструментальные методы рентгеноструктурного анализа : Учеб.пособие для хим.спец.вузов / Л.А. Асланов. - М. : Изд-во МГУ, 1983. - 288 с. : ил. - Библиогр.:с.287. - 1-20.
Инструментальные методы рентгеноструктурного анализа : Учеб.пособие для хим.спец.вузов / Л.А. Асланов. - М. : Изд-во МГУ, 1983. - 288 с. : ил. - Библиогр.:с.287. - 1-20.
Авторы: Асланов Л.А.
Шифры: 548 - А 90
Ключевые слова: РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ, КРИСТАЛЛЫ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: ХИМИЯ
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
Дисциплина: Методы контроля и анализа веществ
20. Документ
Электронно-статистическая теория металлов и ионных кристаллов / В.Ф. Ухов [и др.] ; АН СССР, Урал.науч.центр, Ин-т металлургии; Отв.ред.Б.М.Лепинских. - М. : Наука, 1982. - 160 с. - Библиогр.:с.147-159. - 1-70.
Авторы: Ухов В.Ф., Кобелева Р.М., Дедков Г В., Темроков А.И.
Шифры: 539 - Э 45
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, ИОННЫЕ КРИСТАЛЛЫ, МЕТАЛЛЫ, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕОРИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1