Ошурина Л.А.
Методы структурного анализа и контроля качества [Электронные текстовые данные] : Учеб.пособие / Л.А. Ошурина ; НГТУ им.Р.Е.Алексеева. - Н.Новгород : [Изд-во НГТУ], 2020. - 95 с. - Библиогр.:с.95. - 0-00.

Авторы: Ошурина Л.А.

Экземпляры: Всего: 1, из них: зэр-1

Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 2002. - 360 с. : ил. - ISBN 5-87623-096-0 : 163-00.

Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.

Шифры: 669(075) - Г 68

Экземпляры: Всего: 3, из них: нтл-2, чз-1

Дисциплина: Методы структурного анализа и контроля качества(МТНМ), Рентгенография и электронная микроскопия

Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов по направлению "Материаловедение и технол.новых материалов" / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 3-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 1994. - 327 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 12-00.

Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.

Шифры: 669(075) - Г 68

Экземпляры: Всего: 6, из них: нтл-2, чз-4

Дисциплина: Рентгенография и электронная микроскопия

Новиков И.И.
Металловедение, термообработка и рентгенография : Учебник для металлург.и машиностроит.спец.вузов / И.И. Новиков, Г.Б. Строганов, А.И. Новиков. - М. : Изд-во МИСИС; Металлургия, 1994. - 478 с. : ил. - Предм.указ.:с.475-479. - Библиогр.:с.474. - ISBN 5-87623-005-7 : 3000-00.

Авторы: Новиков И.И., Строганов Г.Б., Новиков А.И.

Шифры: 669(075) - Н 73

Экземпляры: Всего: 3, из них: чз-3

Дисциплина: Диагностика материалов, структур и приборов электронной техники, Материаловедение (МТНМ), Методы структурного анализа и контроля качества(МТНМ), Упрочняющая обработка поверхностных слоев материалов и изделий

Ведринский Р.В.
Рентгеновские спектры поглощения твердых тел / Р.В. Ведринский, И.И. Гегузин. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : ил. - Библиогр.:с.177-182. - ISBN 5-283-03923-4 : 2-80.

Авторы: Ведринский Р.В., Гегузин И.И.

Шифры: 539 - В 26

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-1, общ2-1

Бекренев А.Н.
Малоугловая рентгенография деформации и разрушения материалов / А.Н. Бекренев, Л.И. Миркин. - М. : Изд-во МГУ, 1991. - 246 с. : ил. - Библиогр.:с.229-244. - 4-30.

Авторы: Бекренев А.Н., Миркин Л.И.

Шифры: 539 - Б 42

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2

Афанасьев А.М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1989. - 151 с. : ил. - Библиогр.:с.146-151. - ISBN 5-02-014020-1 : 2-10.

Авторы: Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.

Шифры: 548 - А 94

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2

Курмаев Э.З.
Рентгеновские спектры твердых тел / Э.З. Курмаев, В.М. Черкашенко, Л.Д. Финкельштейн ; АН СССР, Урал.науч.центр, Ин-т физики металлов; Отв.ред.С.В.Вонсовский. - М. : Наука, 1988. - 174 с. : ил. - Библиогр.:с.162-173. - ISBN 5-02-000713-7 : 2-70.

Авторы: Курмаев Э.З., Черкашенко В.М., Финкельштейн Л.Д.

Шифры: 539 - К 93

Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1

Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Пер.с англ. / М.П. Сих [и др.] ; Под ред.Д.Бриггса, М.П.Сиха. - М. : Мир, 1987. - 598 с. : ил. - Авт.указаны на обороте тит.л.-Указ.имен.,хим.соединений, предм.:с.581-592.-Пер.изд.:Practical sufrace analysis by auger-and X-ray protoelectron spectroscopy (Chichester etc.,1983). - Библиогр.в конце гл. - 6-40.

Авторы: Сих М.П., Бриггс Д., Ривьер Дж.К.,

Шифры: 539 - А 64

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2

Дисциплина: Диагностика материалов, структур и приборов электронной техники

Афанасьев А.М.
Ренгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1986. - 94 с. : ил. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Предм.указ.:с.94-95. - Библиогр.:с.93. - 0-75.

Авторы: Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.

Шифры: 539 - А 94

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2

Александров Л.Н.
Кинетика кристаллизации и перекристаллизации полупроводниковых пленок / Л.Н. Александров ; АН СССР, Сибирское отд-ние, Ин-т физики полупроводников; Отв.ред.Л.С.Смирнов. - Новосибирск : Наука.Сиб.отд-ние, 1985. - 224 с. : ил. - Библиогр.:с.203-223. - 3-00.

Авторы: Александров Л.Н.

Шифры: 539 - А 46

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2

Татаринова Л.И.
Структура твердых аморфных и жидких веществ / Л.И. Татаринова. - М. : Наука, 1983. - 151 с. : ил. - Предм.указ.:с.150-151. - Библиогр.:с.143-149. - 1-60.

Авторы: Татаринова Л.И.

Шифры: 539 - Т 23

Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1

Блохин М.А.
Рентгеноспектральный справочник / М.А. Блохин, И.Г. Швейцер. - М. : Наука, 1982. - 376 с. - Библиогр.:с.375. - 3-60.

Авторы: Блохин М.А., Швейцер И.Г.

Шифры: 539(031) - Б 70

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2

Миркин Л.И.
Рентгеноструктурный анализ. Индуцирование рентгенограмм : Справ.руководство / Л.И. Миркин. - М. : Наука, 1981. - 496 с. : ил. - Библиогр.:с.495. - 2-60.

Авторы: Миркин Л.И.

Шифры: 539(031) - М 63

Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2

Бекренев А.Н.
Рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами. Расчёт рентгенограмм : Учеб.пособие / А.Н. Бекренев ; Куйбышев.политехн.ин-т им.В.В.Куйбышева. - Куйбышев : [Б.и.], 1981. - 90 с. - Библиогр.:с.88. - 0-20.

Авторы: Бекренев А.Н.

Шифры: 539 - Б 42

Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1

Коляда В.М.
Рентгеноспектральный анализ с ионным возбуждением / В.М. Коляда, А.К. Зайченко, Р.В. Дмитренко. - М. : Атомиздат, 1978. - 247 с. : ил. - Библиогр.:с.228-244. - 2-30.

Авторы: Коляда В.М., Зайченко А.К., Дмитренко Р.В.

Шифры: 539 - К 62

Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1

Зимкина Т.М.
Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия / Т.М. Зимкина, В.А. Фомичев ; ЛГУ им.А.А.Жданова. - Л. : Изд-во ЛГУ, 1971. - 132 с. : черт. - Библиогр.:с.127-131. - 0-80.

Авторы: Зимкина Т.М., Фомичев В.А.

Шифры: 539 - З-62

Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1