| Найдено документов - 32 | Найти похожие: "Индекс УДК" = '535.33 или 539.26' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Ошурина Л.А.
Методы структурного анализа и контроля качества [Электронные текстовые данные] : Учеб.пособие / Л.А. Ошурина ; НГТУ им.Р.Е.Алексеева. - Н.Новгород : [Изд-во НГТУ], 2020. - 95 с. - Библиогр.:с.95. - 0-00.
Методы структурного анализа и контроля качества [Электронные текстовые данные] : Учеб.пособие / Л.А. Ошурина ; НГТУ им.Р.Е.Алексеева. - Н.Новгород : [Изд-во НГТУ], 2020. - 95 с. - Библиогр.:с.95. - 0-00.
Авторы: Ошурина Л.А.
Ключевые слова: ХИМИЯ КРИСТАЛЛОВ, ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ, ФИЗИКА РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ, РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ, СВОЙСТВА, СПЕКТРАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА, УРАВНЕНИЕ ВУЛЬФА-БРЕГГА, РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, ПОГЛОЩЕНИЕ ЛУЧЕЙ, УРАВНЕНИЯ ДИФРАКЦИИ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МЕТОД ДЕБАЯ-ШЕРРЕРА, РЕНТГЕНОГРАММЫ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАММЫ, КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ, ЭЛЕКТРОННЫЕ ДОКУМЕНТЫ
Основная рубрика: ХИМИЯ
Экземпляры: Всего: 1, из них: зэр-1
2. Документ
Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 2002. - 360 с. : ил. - ISBN 5-87623-096-0 : 163-00.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 2002. - 360 с. : ил. - ISBN 5-87623-096-0 : 163-00.
Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Шифры: 669(075) - Г 68
Ключевые слова: РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ, РЕНТГЕНОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 3, из них: нтл-2, чз-1
Дисциплина: Методы структурного анализа и контроля качества(МТНМ), Рентгенография и электронная микроскопия
3. Документ
Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов по направлению "Материаловедение и технол.новых материалов" / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 3-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 1994. - 327 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 12-00.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов по направлению "Материаловедение и технол.новых материалов" / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 3-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 1994. - 327 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 12-00.
Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Шифры: 669(075) - Г 68
Ключевые слова: РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ, РЕНТГЕНОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 6, из них: нтл-2, чз-4
Дисциплина: Рентгенография и электронная микроскопия
4. Документ
Новиков И.И.
Металловедение, термообработка и рентгенография : Учебник для металлург.и машиностроит.спец.вузов / И.И. Новиков, Г.Б. Строганов, А.И. Новиков. - М. : Изд-во МИСИС; Металлургия, 1994. - 478 с. : ил. - Предм.указ.:с.475-479. - Библиогр.:с.474. - ISBN 5-87623-005-7 : 3000-00.
Металловедение, термообработка и рентгенография : Учебник для металлург.и машиностроит.спец.вузов / И.И. Новиков, Г.Б. Строганов, А.И. Новиков. - М. : Изд-во МИСИС; Металлургия, 1994. - 478 с. : ил. - Предм.указ.:с.475-479. - Библиогр.:с.474. - ISBN 5-87623-005-7 : 3000-00.
Авторы: Новиков И.И., Строганов Г.Б., Новиков А.И.
Шифры: 669(075) - Н 73
Ключевые слова: МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ, МЕТАЛЛЫ, ТЕРМИЧЕСКАЯ ОБРАБОТКА, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, СПЛАВЫ, ЛИТЕЙНОЕ ПРОИЗВОДСТВО, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ, ЦВЕТНЫЕ МЕТАЛЛЫ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 3, из них: чз-3
Дисциплина: Диагностика материалов, структур и приборов электронной техники, Материаловедение (МТНМ), Методы структурного анализа и контроля качества(МТНМ), Упрочняющая обработка поверхностных слоев материалов и изделий
5. Документ
Ведринский Р.В.
Рентгеновские спектры поглощения твердых тел / Р.В. Ведринский, И.И. Гегузин. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : ил. - Библиогр.:с.177-182. - ISBN 5-283-03923-4 : 2-80.
Рентгеновские спектры поглощения твердых тел / Р.В. Ведринский, И.И. Гегузин. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : ил. - Библиогр.:с.177-182. - ISBN 5-283-03923-4 : 2-80.
Авторы: Ведринский Р.В., Гегузин И.И.
Шифры: 539 - В 26
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРЫ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, ПОГЛОЩЕНИЕ СВЕТА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-1, общ2-1
6. Документ
Бекренев А.Н.
Малоугловая рентгенография деформации и разрушения материалов / А.Н. Бекренев, Л.И. Миркин. - М. : Изд-во МГУ, 1991. - 246 с. : ил. - Библиогр.:с.229-244. - 4-30.
Малоугловая рентгенография деформации и разрушения материалов / А.Н. Бекренев, Л.И. Миркин. - М. : Изд-во МГУ, 1991. - 246 с. : ил. - Библиогр.:с.229-244. - 4-30.
Авторы: Бекренев А.Н., Миркин Л.И.
Шифры: 539 - Б 42
Ключевые слова: РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ
Основная рубрика: МЕХАНИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
7. Документ
Гадомский О.Н.
Оптическая эхо-спектроскопия поверхности / О.Н. Гадомский, Р.А. Власов ; АН БССР, Ин-т физики им.Б.И.Степанова. - Минск : Навука и тэхника, 1990. - 246 с. - Библиогр.:с.234-242. - 2-40.
Оптическая эхо-спектроскопия поверхности / О.Н. Гадомский, Р.А. Власов ; АН БССР, Ин-т физики им.Б.И.Степанова. - Минск : Навука и тэхника, 1990. - 246 с. - Библиогр.:с.234-242. - 2-40.
Авторы: Гадомский О.Н., Власов Р.А.
Шифры: 53 - Г 13
Ключевые слова: ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ, ОПТИКА, ОПТИЧЕСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, ПОВЕРХНОСТЬ, ФИЗИКА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
8. Документ
Модинос А.
Авто-,термо-и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия / А. Модинос. - М. : Наука.Гл.ред.физ.-мат.лит., 1990. - 320 с. : ил. - Библиогр.:с.317-319. - ISBN 5-02-014177-1 : 5-00.
Авто-,термо-и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия / А. Модинос. - М. : Наука.Гл.ред.физ.-мат.лит., 1990. - 320 с. : ил. - Библиогр.:с.317-319. - ISBN 5-02-014177-1 : 5-00.
Авторы: Модинос А.
Шифры: 53 - М 74
Ключевые слова: ФИЗИКА, ОПТИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-1, общ-1
9. Документ
Вудраф Д.
Современные методы исследования поверхности : Пер.с англ. / Д. Вудраф, Т. Делчар. - М. : Мир, 1989. - 568 с. : ил. - Указ.имен.,хим.соединений, предм.:с.559-568. - Библиогр.:с.545-568. - ISBN 5-03-001129-3 : 4-90.
Современные методы исследования поверхности : Пер.с англ. / Д. Вудраф, Т. Делчар. - М. : Мир, 1989. - 568 с. : ил. - Указ.имен.,хим.соединений, предм.:с.559-568. - Библиогр.:с.545-568. - ISBN 5-03-001129-3 : 4-90.
Авторы: Вудраф Д., Делчар Т.
Шифры: 53 - В 88
Ключевые слова: ФИЗИКА, ОПТИКА, МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ, ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
10. Документ
Афанасьев А.М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1989. - 151 с. : ил. - Библиогр.:с.146-151. - ISBN 5-02-014020-1 : 2-10.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1989. - 151 с. : ил. - Библиогр.:с.146-151. - ISBN 5-02-014020-1 : 2-10.
Авторы: Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.
Шифры: 548 - А 94
Ключевые слова: РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, КРИСТАЛЛЫ, ДИФРАКЦИЯ
Основная рубрика: ХИМИЯ
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
11. Документ
Курмаев Э.З.
Рентгеновские спектры твердых тел / Э.З. Курмаев, В.М. Черкашенко, Л.Д. Финкельштейн ; АН СССР, Урал.науч.центр, Ин-т физики металлов; Отв.ред.С.В.Вонсовский. - М. : Наука, 1988. - 174 с. : ил. - Библиогр.:с.162-173. - ISBN 5-02-000713-7 : 2-70.
Рентгеновские спектры твердых тел / Э.З. Курмаев, В.М. Черкашенко, Л.Д. Финкельштейн ; АН СССР, Урал.науч.центр, Ин-т физики металлов; Отв.ред.С.В.Вонсовский. - М. : Наука, 1988. - 174 с. : ил. - Библиогр.:с.162-173. - ISBN 5-02-000713-7 : 2-70.
Авторы: Курмаев Э.З., Черкашенко В.М., Финкельштейн Л.Д.
Шифры: 539 - К 93
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, СПЕКТРЫ ТЕЛ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
12. Документ
Сверхбыстрые процессы в спектроскопии : Тезисы докл.5-го международного симпозиума, Вильнюс, 22-25 августа 1987 г. / Европ.физ.о-во. Науч.советы АН СССР по пробл."Когерентная и нелинейная оптика" и "Спектроскопия атомов и молекул". - Вильнюс : ИФ, 1987. - 309 с. : ил. - Указ.авт.:с.298-303. - Библиогр.в конце докл. - 1-80.
Шифры: 53 - С 24
Ключевые слова: ФИЗИКА, ОПТИКА, СПЕКТРОСКОПИЯ, ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ, МЕЖДУНАРОДНЫЕ СИМПОЗИУМЫ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
13. Документ
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Пер.с англ. / М.П. Сих [и др.] ; Под ред.Д.Бриггса, М.П.Сиха. - М. : Мир, 1987. - 598 с. : ил. - Авт.указаны на обороте тит.л.-Указ.имен.,хим.соединений, предм.:с.581-592.-Пер.изд.:Practical sufrace analysis by auger-and X-ray protoelectron spectroscopy (Chichester etc.,1983). - Библиогр.в конце гл. - 6-40.
Авторы: Сих М.П., Бриггс Д., Ривьер Дж.К.,
Шифры: 539 - А 64
Ключевые слова: СПЕКТРОСКОПИЯ, ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ, СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ, ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
Дисциплина: Диагностика материалов, структур и приборов электронной техники
14. Документ
Афанасьев А.М.
Ренгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1986. - 94 с. : ил. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Предм.указ.:с.94-95. - Библиогр.:с.93. - 0-75.
Ренгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. - М. : Наука, 1986. - 94 с. : ил. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Предм.указ.:с.94-95. - Библиогр.:с.93. - 0-75.
Авторы: Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.
Шифры: 539 - А 94
Ключевые слова: МОНОКРИСТАЛЛЫ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
Основная рубрика: МЕХАНИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
15. Документ
Александров Е.Б.
Лазерная магнитная спектроскопия / Е.Б. Александров, В.С. Запасский ; АН СССР. - М. : Наука, 1986. - 278 с. : ил. - (Академия чтения). - Библиогр.:с.276-277. - 0-75.
Лазерная магнитная спектроскопия / Е.Б. Александров, В.С. Запасский ; АН СССР. - М. : Наука, 1986. - 278 с. : ил. - (Академия чтения). - Библиогр.:с.276-277. - 0-75.
Авторы: Александров Е.Б., Запасский В.С.
Шифры: 53 - А 46
Ключевые слова: СПЕКТРОСКОПИЯ, ЛАЗЕРНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
16. Документ
Татаринова Л.И.
Структура твердых аморфных и жидких веществ / Л.И. Татаринова. - М. : Наука, 1983. - 151 с. : ил. - Предм.указ.:с.150-151. - Библиогр.:с.143-149. - 1-60.
Структура твердых аморфных и жидких веществ / Л.И. Татаринова. - М. : Наука, 1983. - 151 с. : ил. - Предм.указ.:с.150-151. - Библиогр.:с.143-149. - 1-60.
Авторы: Татаринова Л.И.
Шифры: 539 - Т 23
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, АМОРФНЫЕ ТЕЛА, ЖИДКИЕ ВЕЩЕСТВА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
17. Документ
Блохин М.А.
Рентгеноспектральный справочник / М.А. Блохин, И.Г. Швейцер. - М. : Наука, 1982. - 376 с. - Библиогр.:с.375. - 3-60.
Рентгеноспектральный справочник / М.А. Блохин, И.Г. Швейцер. - М. : Наука, 1982. - 376 с. - Библиогр.:с.375. - 3-60.
Авторы: Блохин М.А., Швейцер И.Г.
Шифры: 539(031) - Б 70
Ключевые слова: СПРАВОЧНИКИ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2
18. Документ
Карлсон Т.А.
Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия : Пер.с англ. / Т.А. Карлсон. - Л. : Машиностроение.Ленингр.отд-ние, 1981. - 431 с. : ил. - Предм.указ.:с.422-426. - Библиогр.:с.391-421. - 2-30.
Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия : Пер.с англ. / Т.А. Карлсон. - Л. : Машиностроение.Ленингр.отд-ние, 1981. - 431 с. : ил. - Предм.указ.:с.422-426. - Библиогр.:с.391-421. - 2-30.
Авторы: Карлсон Т.А.
Шифры: 53 - К 23
Ключевые слова: ФИЗИКА, ОПТИКА, ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
19. Документ
Банкер Ф.Р.
Симметрия молекул и молекулярная спектроскопия : Пер.с англ. / Ф.Р. Банкер. - М. : Мир, 1981. - 451 с. : ил. - Пер.изд.:Molecular symmetry and spectroscopy/Philip R.Bunker (New York etc.,1979). - Библиогр.:с.444-448. - 4-10.
Симметрия молекул и молекулярная спектроскопия : Пер.с англ. / Ф.Р. Банкер. - М. : Мир, 1981. - 451 с. : ил. - Пер.изд.:Molecular symmetry and spectroscopy/Philip R.Bunker (New York etc.,1979). - Библиогр.:с.444-448. - 4-10.
Авторы: Банкер Ф.Р.
Шифры: 53 - Б 23
Ключевые слова: МОЛЕКУЛЫ, МОЛЕКУЛЯРНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, СИММЕТРИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
20. Документ
Миркин Л.И.
Рентгеноструктурный анализ. Индуцирование рентгенограмм : Справ.руководство / Л.И. Миркин. - М. : Наука, 1981. - 496 с. : ил. - Библиогр.:с.495. - 2-60.
Рентгеноструктурный анализ. Индуцирование рентгенограмм : Справ.руководство / Л.И. Миркин. - М. : Наука, 1981. - 496 с. : ил. - Библиогр.:с.495. - 2-60.
Авторы: Миркин Л.И.
Шифры: 539(031) - М 63
Ключевые слова: РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ, РЕНТГЕНОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, СПРАВОЧНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: МЕХАНИКА
Экземпляры: Всего: 2, из них: нтл-2