| Найдено документов - 12 | Найти похожие: "Индекс УДК" = '539.27' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Ошурина Л.А.
Методы структурного анализа и контроля качества [Электронные текстовые данные] : Учеб.пособие / Л.А. Ошурина ; НГТУ им.Р.Е.Алексеева. - Н.Новгород : [Изд-во НГТУ], 2020. - 95 с. - Библиогр.:с.95. - 0-00.
Методы структурного анализа и контроля качества [Электронные текстовые данные] : Учеб.пособие / Л.А. Ошурина ; НГТУ им.Р.Е.Алексеева. - Н.Новгород : [Изд-во НГТУ], 2020. - 95 с. - Библиогр.:с.95. - 0-00.
Авторы: Ошурина Л.А.
Ключевые слова: ХИМИЯ КРИСТАЛЛОВ, ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ, ФИЗИКА РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ, РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ, СВОЙСТВА, СПЕКТРАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА, УРАВНЕНИЕ ВУЛЬФА-БРЕГГА, РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, ПОГЛОЩЕНИЕ ЛУЧЕЙ, УРАВНЕНИЯ ДИФРАКЦИИ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МЕТОД ДЕБАЯ-ШЕРРЕРА, РЕНТГЕНОГРАММЫ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАММЫ, КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ, ЭЛЕКТРОННЫЕ ДОКУМЕНТЫ
Основная рубрика: ХИМИЯ
Экземпляры: Всего: 1, из них: зэр-1
2. Документ
Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 2002. - 360 с. : ил. - ISBN 5-87623-096-0 : 163-00.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 4-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 2002. - 360 с. : ил. - ISBN 5-87623-096-0 : 163-00.
Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Шифры: 669(075) - Г 68
Ключевые слова: РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ, РЕНТГЕНОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 3, из них: нтл-2, чз-1
Дисциплина: Методы структурного анализа и контроля качества(МТНМ), Рентгенография и электронная микроскопия
3. Документ
Горелик С.С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов по направлению "Материаловедение и технол.новых материалов" / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 3-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 1994. - 327 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 12-00.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов по направлению "Материаловедение и технол.новых материалов" / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - 3-е изд.,перераб.и доп. - М. : Изд-во МИСИС, 1994. - 327 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 12-00.
Авторы: Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Шифры: 669(075) - Г 68
Ключевые слова: РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ, РЕНТГЕНОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ТЕКСТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРОСКОПИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры: Всего: 6, из них: нтл-2, чз-4
Дисциплина: Рентгенография и электронная микроскопия
4. Документ
Комаров Ф.Ф.
Неразрушающий анализ поверхностей твердых тел ионными пучками / Ф.Ф. Комаров, М.А. Кумахов, И.С. Ташлыков. - Минск : Университетское, 1987. - 255 с. : ил. - Библиогр.:с.231-238. - 2-40.
Неразрушающий анализ поверхностей твердых тел ионными пучками / Ф.Ф. Комаров, М.А. Кумахов, И.С. Ташлыков. - Минск : Университетское, 1987. - 255 с. : ил. - Библиогр.:с.231-238. - 2-40.
Авторы: Комаров Ф.Ф., Кумахов М.А., Ташлыков И.С.
Шифры: 539 - К 63
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ, ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
5. Документ
Изюмов Ю.А.
Дифракция нейтронов на длиннопериодических структурах / Ю.А. Изюмов. - М. : Энергоатомиздат, 1987. - 199 с. : ил. - Библиогр.:с.191-196. - 3-30.
Дифракция нейтронов на длиннопериодических структурах / Ю.А. Изюмов. - М. : Энергоатомиздат, 1987. - 199 с. : ил. - Библиогр.:с.191-196. - 3-30.
Авторы: Изюмов Ю.А.
Шифры: 539 - И 39
Ключевые слова: ДИФРАКЦИЯ, НЕЙТРОННАЯ ФИЗИКА, НЕЙТРОНЫ, ФИЗИКА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
6. Книга
Зырянов Г.К.
Низковольтная электронография : Учеб.пособие / Г.К. Зырянов ; ЛГУ им.А.А.Жданова; Под ред.П.П.Конорова. - Л. : Изд-во ЛГУ, 1986. - 186 с. : ил. - Библиогр.:с.175-185. - 0-35.
Низковольтная электронография : Учеб.пособие / Г.К. Зырянов ; ЛГУ им.А.А.Жданова; Под ред.П.П.Конорова. - Л. : Изд-во ЛГУ, 1986. - 186 с. : ил. - Библиогр.:с.175-185. - 0-35.
Авторы: Зырянов Г.К.
Шифры: 539(075) - З-97
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, НИЗКОВОЛЬТНЫЕ УСТРОЙСТВА, ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ УСТРОЙСТВА, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
7. Документ
Аккерман А.Ф.
Вторичное электронное излучение из твердых тел под действием гамма-квантов / А.Ф. Аккерман, М.Я. Грудский, В.В. Смиронов. - М. : Энергоатомиздат, 1986. - 165 с. : ил. - Библиогр.:с.159-166. - 1-80.
Вторичное электронное излучение из твердых тел под действием гамма-квантов / А.Ф. Аккерман, М.Я. Грудский, В.В. Смиронов. - М. : Энергоатомиздат, 1986. - 165 с. : ил. - Библиогр.:с.159-166. - 1-80.
Авторы: Аккерман А.Ф., Грудский М.Я., Смиронов В.В.
Шифры: 539 - А 39
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ЯДЕРНЫЕ РЕАКЦИИ, ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ ЧАСТИЦЫ, АТОМНАЯ ФИЗИКА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
8. Документ
Спектрография и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел / АН СССР, Ин-т физики твердого тела; Отв.ред.Н.Г.Рамбиди. - М. : Наука, 1985. - 288 с. - (Физика, химия и механика поверхности). - Библиогр.:с283-285. - 3-60.
Шифры: 539 - С 71
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, СПЕКТРОГРАФИЯ, ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ, ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ, ПОВЕРХНОСТЬ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
9. Документ
Электронно-статистическая теория металлов и ионных кристаллов / В.Ф. Ухов [и др.] ; АН СССР, Урал.науч.центр, Ин-т металлургии; Отв.ред.Б.М.Лепинских. - М. : Наука, 1982. - 160 с. - Библиогр.:с.147-159. - 1-70.
Авторы: Ухов В.Ф., Кобелева Р.М., Дедков Г В., Темроков А.И.
Шифры: 539 - Э 45
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ТВЁРДЫЕ ТЕЛА, ИОННЫЕ КРИСТАЛЛЫ, МЕТАЛЛЫ, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕОРИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
10. Документ
Электронная и ионная спектроскопия твердых тел : Пер.с англ. / Дж. Маан [и др.] ; Под ред.Л.Фирменса, В.И.Раховского. - М. : Мир, 1981. - 467 с. : ил. - Библиогр.в конце разд. - 1-50.
Авторы: Маан Дж., Спайсер В., Либш А., Эртль Г.
Шифры: 539 - Э 45
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, ИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
11. Документ
Динамические свойства твердых тел и жидкостей. Исследования методом рассеяния нейтронов : Пер.с англ. - М. : Мир, 1980. - 492 с. - Библиогр.:с.472-477. - 4-50.
Шифры: 539 - Д 46
Ключевые слова: ФИЗИКА, МЕХАНИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, МЕХАНИКА ЖИДКОСТЕЙ, НЕЙТРОНЫ, РАССЕЯНИЕ, МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ, ГИДРОМЕХАНИКА
Основная рубрика: ФИЗИКА; МЕХАНИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
12. Документ
Васильев Д.М.
Дифракционные методы исследования структур / Д.М. Васильев. - М. : Металлургия, 1977. - 248 с. - Библиогр.:с.244-245. - 2-59.
Дифракционные методы исследования структур / Д.М. Васильев. - М. : Металлургия, 1977. - 248 с. - Библиогр.:с.244-245. - 2-59.
Авторы: Васильев Д.М.
Шифры: 539 - В 19
Ключевые слова: ФИЗИКА ТВЁРДЫХ ТЕЛ, ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ, ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ
Основная рубрика: ФИЗИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1