| Найдено документов - 1 | Найти похожие: "Индекс УДК" = '621.382.049.77:539.16' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Документ
Ширяев А.А.
Прогнозирование дозовой радиационной стойкости КМОП-микросхем на основе анализа вольт-амперных характеристик слоев диоксида кремния : Дис.на соиск.ученой степ.канд.техн.наук:2.2.8 / А.А. Ширяев ; Всерос.научно-исслед.ин-т экспериментальной физики, Науч.-исслед.ин-т измерительных систем им.Ю.Е.Седакова; Науч.рук.В.М.Воротынцев. - Защищена 06.06.24. - Н.Новгород : [Б.и.], 2024. - 131 с. : ил. - Прил.:автореф.дис.-Прил.:с.129-130. - Библиогр.:с.120-128. - 0-00.
Прогнозирование дозовой радиационной стойкости КМОП-микросхем на основе анализа вольт-амперных характеристик слоев диоксида кремния : Дис.на соиск.ученой степ.канд.техн.наук:2.2.8 / А.А. Ширяев ; Всерос.научно-исслед.ин-т экспериментальной физики, Науч.-исслед.ин-т измерительных систем им.Ю.Е.Седакова; Науч.рук.В.М.Воротынцев. - Защищена 06.06.24. - Н.Новгород : [Б.и.], 2024. - 131 с. : ил. - Прил.:автореф.дис.-Прил.:с.129-130. - Библиогр.:с.120-128. - 0-00.
Авторы: Ширяев А.А.
Шифры: 621.38 - Ш 64
Ключевые слова: ЭЛЕКТРОНИКА, ЯДЕРНАЯ ФИЗИКА, ПРОГНОЗИРОВАНИЕ СТОЙКОСТИ, РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ, ДОЗОВАЯ РАДИАЦИЯ, КМОП-МИКРОСХЕМЫ, КМОП-ТРАНЗИСТОРЫ, АНАЛИЗ ХАРАКТЕРИСТИК, ВОЛЬТ-АМПЕРНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ, КОНСТРУКЦИОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ, ДИОКСИД КРЕМНИЯ, ТЕРМИЧЕСКИЙ ДИОКСИД КРЕМНИЯ, ДЕФЕКТЫ МАТЕРИАЛОВ, ОБНАРУЖЕНИЕ ДЕФЕКТОВ И НЕСОВЕРШЕНСТВ, ПРИМЕСИ, НАПРЯЖЕНИЯ, ТРЕЩИНЫ, МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ, ТЕСТИРОВАНИЕ, КОНДЕНСАТОРЫ, МЕТОДЫ ОЦЕНКИ, ОЦЕНКА СТОЙКОСТИ, МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ, ДИССЕРТАЦИИ, ЭЛЕКТРОННЫЕ ДОКУМЕНТЫ
Основная рубрика: ЭЛЕКТРОНИКА
Экземпляры: Всего: 1, из них: нтл-1
Для просмотра необходимо войти в личный кабинет